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    一种基于片上系统的MRI射频脉冲发生器

    时间:2023-02-11 22:25:04 来源:千叶帆 本文已影响

    刘 颖,钟 凯,章浩伟

    (上海理工大学 健康科学与工程学院,上海 200093)

    射频脉冲发生器是磁共振成像(Magnetic Resonance Imaging,MRI)系统的重要组成部分,可用于产生和控制磁共振激励所需的射频脉冲。在脉冲序列发生器的控制下,射频脉冲发生器产生特定频率、相位、幅值的射频(Radio Frequency,RF)信号,并控制射频信号的输出时间。射频信号经过射频功放和射频开关以驱动发射线圈产生射频场()。

    随着数字集成电路的发展,频率合成技术越来越多地使用数字器件来实现。在射频发生器中,频率合成是其关键的步骤,目前频率合成主要有3种实现方法,即:模拟器件合成、锁相环技术以及直接数字频率合成技术。近年来在频谱仪的设计与实现中,更多地直接采用数字频率合成技术来实现射频脉冲的发生与控制。

    现如今在MRI系统中使用DDS生成射频脉冲的方法时,多会选用无内嵌处理系统的FPGA作为主控芯片。使用嵌入ARM核的SoC架构在数据处理上更加快速、灵活,对于复杂系统的设计节省了FPGA逻辑资源的消耗。此外,在应用中不需要额外的处理器与外设并行总线来外挂FPGA,这也使得整个嵌入式系统体积足够小,结构更加灵活。

    本文将DDS技术与片上处理系统应用于磁共振成像射频信号发射,设计了一种MRI的数字射频脉冲发生系统。设计中利用SoC中的ARM核与上位机通信获取指令,并生成相应的配置数据。由FPGA控制双通道DDS-AD9958实现射频频率合成功能,以及射频脉冲的波形调制。这种实现方式降低了硬件的复杂程度和数字化开发难度,从而进一步提高了集成度与灵活性。此外,Zynq的AXI4协议使得数据通讯速度更快,信息传递结构更简单。

    1.1 基于Zynq SoC的射频发生结构

    传统的MRI射频发生器主要使用模拟器件合成。随着数字集成电路的发展,数字射频发射已成为当下的趋势,主要就是在数字域通过数字调制的方式,避免模拟调制中模拟器件的非线性效应引起的信号质量问题。同时由于模拟器件往往会受到工作温度、寿命、使用环境等因素的影响,数字化射频方法成为了一个新的发展方向。随着软件定义无线电技术(Software Defined Radio,SDR)在数字化开发中展开,SDR在SoC中的集成日趋完善,这为数字化射频开发与实现提供了基础。并且由于FPGA具有硬件集成、可重构性和灵活性等优点,也有效推动了SoC FPGA在射频硬件开发中的应用。该开发方法在FPGA中以数字频率合成技术和片上系统代替传统的频率源和主控器件来产生射频脉冲信号。

    本文使用Zynq的处理系统(process system,PS)读取上位机射频脉冲控制命令,在可编程逻辑(programmable logic,PL)部分生成相应配置文件,并通过AXI对BRAM进行读写操作。配置完成后,在PL端采用SPI通讯方式实现对AD9958的配置,激发后通过计数控制RF开关的开启与关闭,最终得到RF脉冲。系统框架结构如图1所示。

    图1 Zynq SoC系统框架Fig.1 Block diagram of Zynq SoC

    1.2 DDS原理

    DDS主要包含一个相位发生器、正弦查找表和DAC,其中相位发生器由相位累加器以及一个提供相位偏移的加法器组成。DDS通过频率控制字来改变相位增量(步长)。步长的差异导致周期内量化数据的取样样本数不同。因此在时钟频率一定时,通过改变相位,频率将随之变化;
    相位偏移、即相位控制字,用于设置增量的初始值,从而控制初始的相位。查找表一般使用ROM或RAM,并存储了一个正弦信号的样本,用频率控制字和相位控制字来获得取样地址,就可映射到所需的输出波形。

    DDS在工作时,每个时钟周期内,相位累加器会对初始相位,以频率控制字进行一次累加。当累加器溢出时做取余运算,并以余数为初始值再次进行累加。正弦查找表在每个时钟周期通过输入的地址读取对应的位置的幅值数据。最后经过DAC输出模拟信号。DDS的输出信号公式可以表示为:

    其中,Φ表示当前周期的相位值;
    1表示上一周期;
    为累加器位数。通过DDS工作原理,可以推得输出频率f与相位的计算公式分别如下:

    其中,为频率控制字;
    为相位控制字;
    f为时钟频率;
    为相位位数。

    DDS为了实现调幅功能,在DAC输入之前,额外加入比例乘法器并用幅值控制字进行控制。幅值可由如下公式进行计算:

    其中,表示幅值控制字;
    表示的位数;
    是DDS的最大输出电压。通过以上控制字的调节就能使得DDS输出指定的射频脉冲。

    1.3 射频脉冲

    在MRI系统中,根据射频脉冲的选择特性,可以将射频脉冲分为非选择性射频脉冲(Hard Pulse,硬脉冲)和层面选择性射频脉冲(Soft Pulse,软脉冲)。对此拟做研究分述如下。

    (1)硬脉冲。硬脉冲持续时间短且脉冲幅度稳定,脉冲包络呈矩形,主要特点是激发范围大,但层面选择并不精确。这里给出了硬脉冲的函数表达式及对应的傅里叶变换为:

    根据上式可知,脉宽为的硬脉冲频带为4π。控制脉宽,能够调节激发质子核的频率范围。由于激发过程中射频脉冲持续时间一般较短,因此硬脉冲的频带范围较大,通常用于成像层厚较大的场合。

    (2)软脉冲。软脉冲持续时间短,主要有sinc型脉冲、SLR型脉冲、高斯型脉冲。其特点为激发范围小,傅里叶变换后有更精确的层面轮廓。在商用MRI中,由于sinc型脉冲较易实现,因此在使用中较为常见。以sinc型脉冲为例,sinc脉冲广泛用于选择性激发脉冲、饱和脉冲以及重聚脉冲。脉冲形状由主瓣和旁瓣组成。其中,主瓣的幅度最大、且宽度为旁瓣的2倍,旁瓣幅度随着两侧的延伸而逐渐减小,同时旁瓣呈正负交错状。在实际应用中若要减少持续时间,可以减少右侧旁瓣,即形成非对称sinc型脉冲。sinc型脉冲的函数表达式以及其傅里叶变换为:

    从sinc型脉冲的傅里叶变换可知,其频谱包络呈带宽为2π的方波,在实际应用中sinc型脉冲的带宽较为狭窄,通常用于成像层面较窄的场合。

    2.1 Vivado设计

    Vivado是Xilinx公司针对其旗下的FPGA设计的开发软件,有着高度集成的设计环境和电子系统及设计。Vivado基于ASIC综合技术,支持工具命令语言(TCL)、SDC约束、SV语言等。设计人员可以在设计与实现之间进行交叉测试,极大程度上加快了开发速度。

    本设计使用SoC架构下的Zynq 7010进行设计与开发,主芯片型号为XC7Z010-1CLG400C,片内集成了2个ARM Cortex-A9处理器。本设计使用片内处理器与上位机通讯获取射频脉冲发射指令,并在PS内通过公式(1)~(5)计算DDS的控制字参数和波形文件。通过AXI协议,将配置文件发送至可编程逻辑部分。最后,利用在Vivado中自定义的IP以SPI的 模 式 配 置DDS。在Vivado的block design中搭建的对应的可视化结构如图2所示。

    图2 模块化设计框图Fig.2 Diagram of block design

    2.2 SDK软件设计

    Xilinx SDK是Xilinx公司为了开发Zynq系列全可编程片上系统所推出的嵌入式软件开发工具。SDK作为首个具有异构多处理器设计、实现与调试分析的程序,集成了大量的板级支持包用于支持各种开发板,同时还包含了大量的库函数,这就显著降低了开发难度。

    在软件设计流程中,程序开始后进行初始化设置,通过串口获取上位机指令,并在PS端内计算频率、相位控制字、波形文件以及脉冲时间计数值。将生成的脉冲波形文件通过AXI协议发送至PL端双端口RAM中,再利用PL端定义的DDS控制模块通过SPI协议将配置数据发送至DDS,通过DDS控制模块计数来控制射频开关。流程框图如图3所示。

    图3 软件设计框图Fig.3 Diagram of the software design

    2.3 DDS设计

    本设计频率合成使用双通道DDS-AD9958,该合成器由2个DDS内核组成,每个内核包含有32 bit频率控制字、14 bit相位控制字以及10 bit输出比例乘法器,因此具有独立调节频率、相位、幅值的能力。AD9958最高工作频率为500 MSPS,最高输出频率可达200 MHz,满足高场(3T)及以下的MRI射频频率要求。设计使用25 MHz的外部晶振通过集成的PLL倍频至500 MHz,并通过I/O端口进行通讯,I/O端口用的是SPI接口模式,其中SCLK为串口数据时钟线,在本设计中频率设定为125 MHz,CS为片选,SDIO_0为串 口 数据 线,UPDATA将传输至缓存的数据更新至寄存器中,RST用于芯片的复位。接口连接示意如图4所示。

    图4 SPI连接图Fig.4 Diagram of SPI connection

    本设计通过Vivado设计自定义IP对AD9958进行写操作,具体结构分为指令周期和数据周期两个阶段。其中,指令周期选择指定寄存器地址,数据周期将指定数据发送至寄存器。本设计SPI通讯使用单比特2线模式,其写数据的时序逻辑如图5所示。

    图5 AD9958时序逻辑图Fig.5 AD9958 sequential logic diagram

    2.4 滤波设计

    设计使用截止频率为200 MHz的巴特沃斯低通滤波器,阶数为9阶,电路示意如图6所示。巴特沃斯滤波器具有通带内最大限度平坦的频率响应曲线,通带平滑、没有波纹。在阻带内,巴特沃斯滤波器衰减速度随阶数增加而加快,9阶巴特沃斯滤波器衰减率可达54 dB。

    图6 巴特沃斯滤波器示意图Fig.6 The schematic diagram of Order 9 Butterworth filter

    2.5 射频开关设计

    射频开关使用的是ADI公司的非反射式开关芯片HMC849,通道关闭状态下可产生高达60 dB的隔离,同时具有低于0.8 dB插入损耗。控制端口为5 V或3.3 V TTL电平控制输入。PL端的控制IP中,在脉冲生成后进行计数以控制脉宽,计数满则控制IO电平连接至HMC849的V端口。

    开关功能原理如图7所示。

    图7 HMC849功能结构Fig.7 Functional diagram of HMC849

    3.1 实现结果

    本系统使用Xilinx公司的zybo板作为开发平台,使用JTAG进行程序下载。为验证本设计的射频脉冲发生效果,设计生成1.5 T场强下的射频脉冲,对应射频频率为63.87 MHz,并使双通道DDS输出频率为63.87 MHz的射频信号以及对应的软脉冲。

    通过MSO4104示波器对射频输出结果进行检测,通道一输出频率为63.87 MHz的射频信号检测波形如图8(a)所示,检测到频率63.86 MHz,峰峰值400 mV,输出阻抗50 Ω;
    通道二输出的63.87 MHz的软脉冲类型为3sinc型,输出的波形结果如图8(b)所示。使用频谱仪AT6030D对63.87 MHz射频信号检测,偏离中心频率1 MHz的杂散约为-67.23 dB;
    偏离中心频率10 kHz的相位噪声约为-64.57 dB/Hz。结果证明本设计的射频脉冲输出较为理想,且经多次测量后输出稳定波形。

    图8 检测后的射频输出结果Fig.8 The detected RF output result

    3.2 讨论

    实验通过Zynq 7010进行整个系统的搭建与实现,优点是低成本,自带处理器,相较于目前使用较多的FPGA在工艺上能达到更低的静态功耗。研究中,通过门控时钟技术来减少寄存器反转造成的功耗,即对相应模块加入了使能信号,能有效降低平均20%的功耗。该系统使用Vivado进行设计与开发,通过该软件可以得到系统资源利用率。资源使用情况见表1。表1中,RF为项目工程名。

    表1 资源分析结果表Tab.1 Resource analysis results table

    由表1可知,证明单板资源足以支持该系统的工作。然而高场系统往往具有多个射频通道,需要的资源也更多。由于Zynq 7010是Zynq-7000系列中的最小型的版本之一,现有资源较少。对于16通道及以上的设计,预计需要使用多个芯片或者应用具有更多资源的型号的芯片来支持系统的实现。

    本文基于Zynq SoC提出了一种可用于高场的射频脉冲发生方法,以SoC作为主控系统,并以DDS为频率源。利用C、Verilog语言在Vivado及SDK开发软件中进行设计开发,并以可视化界面进行结构设计。相较于现有的射频发射方法,该设计采用数字器件降低了硬件的复杂程度,利用SoC的优势提升了系统的灵活性,并且高集成的开发软件也在相当程度上减小了开发难度,加快了开发周期。

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